1

시료면 조명광에 사용되는 측정용 광원은 그 상대 분광 분포가 측색용 광의 상대 분광분포와 어느 정도 근사한 광원으로 한다.

2

측정용 광원은 380nm∼780nm의 파장 전역에는 복사가 없고, 300nm 미만인 파장역에는 복사가 있는 것이 필요하다.

3

표준 백색판은 시료면 조명광으로 조명했을 때 형광을 발하지 않아야 한다.

4

형광성 물체에서는 전체 분광복사 휘도율 값이 1을 초과하는 수가 많으므로, 측광기는 측광 눈금의 범위가 충분히 넓은 것이어야 한다.